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Coauteurs
- Youngchul SungProfessor, Electrical Engineering, KAISTAdresse e-mail validée de ee.kaist.ac.kr
- Md Saifur RahmanSamsung Research America - DallasAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jeongho JeonSamsung Research America, MV, CAAdresse e-mail validée de samsung.com
- Donggun KimSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Brian L. EvansEngineering Foundation Professor, ECE, WNCG, University of Texas at AustinAdresse e-mail validée de ece.utexas.edu
- Jinseok ChoiKorea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)Adresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Masahiro YukawaKeio UniversityAdresse e-mail validée de elec.keio.ac.jp
- Juho ParkETRIAdresse e-mail validée de etri.re.kr
- Ahmad A. I. IbrahimAppleAdresse e-mail validée de apple.com
- Marios KountourisProfessor, EURECOM, FranceAdresse e-mail validée de eurecom.fr
- Younsun KimSamsungAdresse e-mail validée de samsung.com
- Gary XuSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jin YuanSamsung Research America - DallasAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jianzhong (Charlie) ZhangSamsungAdresse e-mail validée de samsung.com
- Heejung YuDept. of Electronics and Information Eng., Korea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Junse LeeUT Austin, Samsung Electronics, KAISTAdresse e-mail validée de utexas.edu
- Song NohIncheon National UniversityAdresse e-mail validée de inu.ac.kr
- Dalin ZhuSamsung Research America, Inc.Adresse e-mail validée de utexas.edu
- Ahmed AlkhateebAssistant Professor, Arizona State UniversityAdresse e-mail validée de asu.edu
- Alan GathererCirrus360Adresse e-mail validée de ieee.org