Suivre
André-Sébastien Aubin
André-Sébastien Aubin
Adresse e-mail validée de uqam.ca - Page d'accueil
Titre
Citée par
Citée par
Année
Detecting rater bias using a person-fit statistic: A Monte Carlo simulation study
AS Aubin, C St-Onge, JS Renaud
Perspectives on Medical Education 7, 83-92, 2018
112018
Examinee cohort size and item analysis guidelines for health professions education programs: A Monte Carlo simulation study
AS Aubin, M Young, K Eva, C St-Onge
Academic Medicine 95 (1), 151-156, 2020
102020
Caractéristiques de l'évaluation des apprentissages dans une faculté de génie
AS Aubin
Université de Sherbrooke, 2015
42015
Detecting Aberrant Raters using Person-Fit Statistics: OE5-3
C St-Onge, AS Aubin, JS Renaud
Medical Education 50, 96-97, 2016
2016
Maroy, C.(dir.)(2014). L’école à l’épreuve de la performance. Les politiques de régulation par les résultats. Louvain, Belgique: de Boeck
AS Aubin
Revue des sciences de l’éducation 40 (1), 167-168, 2014
2014
Papi, C.(2014). Formation à distance: dispositifs et interactions. Londres, Royaume-Uni: ISTE Éditions
AS Aubin
Revue des sciences de l’éducation 40 (3), 608-609, 2014
2014
LA VALIDITÉ EST-ELLE UN CONCEPT UTILE EN ÉVALUATION DES APPRENTISSAGES EN CLASSE?
AS Aubin
Questions de pédagogies dans l’enseignement supérieur, 691, 2013
2013
Mesures de courants de faisceaux avec un dispositif Schottky en microscopie électronique à balayage à pression variable (VP-SEM).
AS Aubin
Library and Archives Canada= Bibliothèque et Archives Canada, Ottawa, 2009
2009
SUR L’ACCESSIBILITÉ FINANCIÈRE AUX ÉTUDES L’accessibilité financière à la réussite du projet d’études
A au ministre de l’Éducation
2004
ESEM Beam Current Measuring Device based on a Planar Schottky Diode
AS Aubin, D Drouin, MR Phillips
Microscopy and Microanalysis 8 (S02), 1538-1539, 2002
2002
SCHOTTKY DIODE FOR ELECTRON BEAM CURRENT MEASUREMENT IN ESEM AND VP SEM
D Drouin, AS Aubin, MR Phillips
INT CON on Electron Microscopy, Materials Science 3, 221, 1998
1998
Le système ne peut pas réaliser cette opération maintenant. Veuillez réessayer plus tard.
Articles 1–11